探針冷熱臺(tái)是一款用于研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試的設(shè)備。

果果儀器為西湖大學(xué)定制了一款倒置探針冷熱臺(tái)，用于研究鈣鈦礦太陽(yáng)能電池在變溫條件下帶隙變化對(duì)器件光電轉(zhuǎn)換效率的影響。該設(shè)備解決了鈣鈦礦吸光層與電極不在同一側(cè)的問(wèn)題：通過(guò)正置探針可測(cè)量樣品的暗電流，而倒置探針則可測(cè)量樣品的光生電流。此外，配合設(shè)計(jì)的特殊陶瓷片，該設(shè)備有效避免了常規(guī)探針針尖對(duì)樣品的破壞性。

產(chǎn)品主要技術(shù)規(guī)格

溫度范圍：-190℃~600℃；

溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；

探針：固定式；鎢鋼鍍金探針*6；

探針接口：BNC；

適配太陽(yáng)光模擬器

果果儀器定制探針冷熱臺(tái)應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)